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阿石创申请一种快速测试ITO靶材晶粒粒度的金相检测方法及其应用专利,实现低成本对非高纯金属靶材晶粒粒度的检测
专利摘要显示,本发明提供了一种快速测试ITO靶材晶粒粒度的金相检测方法及其应用,属于检测技术领域...
金融界网站 2024-09-12 01:55:32
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